美國伊諾斯Innov-X小型臺式XRD-XRF聯(lián)用儀 BTX PROFILER旋轉(zhuǎn)多樣品系統(tǒng)/單樣品系統(tǒng)
X射線衍射技術(shù)/集成技術(shù)
BTX PROFILER的XRD技術(shù)來自于美國宇航局NASA埃姆斯實驗室，該技術(shù)曾被美國宇航局火星計劃"好奇號"、"漫游者"使用過；XRF技術(shù)則是奧林巴斯ED-XRF技術(shù)的結(jié)晶，兩大技術(shù)結(jié)合，可以提供材料的元素、成分、結(jié)構(gòu)等全方面的信息，可減少實驗成本，節(jié)約時間和空間。BTX PROFILER 采用兩套獨立的X射線源和探測器，以保證快速獲取**上等的數(shù)據(jù)信息，XRD部分使用CCD二維面探測器，該探測器可以獲取整個德拜環(huán)的衍射數(shù)據(jù)信息，XRF部分則采用SDD探測器，實現(xiàn)更低的檢測下限和更高的靈敏度。
技術(shù)規(guī)格
XRD和XRF組合技術(shù)
①XRD微聚焦X射線管
②XRD X射線束
③XRD準直器 ④XRD樣品
⑤CCD探測器 ⑥XRF X射線管
⑦濾光輪 ⑧XRF X射線束
⑨XRF樣品 ⑩ XRF SDD探測器
用于化合物分析的二維XRD
XRD采用透射衍射幾何技術(shù)，使用能量敏、
位敏的二維CCD面探測器，實現(xiàn)了儀器的小
型化和更為緊湊的結(jié)構(gòu)
1、探測器收集整個德拜環(huán)的信息而非傳統(tǒng)
臺式機只能收集德拜環(huán)一個截面的信息，增大
了數(shù)據(jù)
2、檢測快速，全譜顯示而非步進掃描，普通樣
品 分鐘即可
無測角儀的XRD
使用樣品振動系統(tǒng)(樣品在檢測過程中以6000hz的頻率隨機振動)，替代傳統(tǒng)臺式XRD測角儀可以實現(xiàn)以下功能：
1、樣品制備簡單：樣品無需制片、壓片、刮片，只需得到<150um的顆粒即可； 2、實現(xiàn)樣品顆粒的全方位角度的檢測
3、完全消除檢測過程中晶體的擇優(yōu)取向； 4、增加了樣品檢測量
用于全元素分析的能量色散型（ED）XRF
1、大功率射線管，配以超大面積SDD探測器；2、真正實現(xiàn)了在現(xiàn)場進行快速，準確的檢測；3、直接顯示元素的ppm含量與百分比含量；4、全元素分析，從鎂（Mg）到鈾（U）之間的所有元素；5、7個濾光片設(shè)置，可根據(jù)元素自動選擇*優(yōu)濾光片；6、可選配氦氣裝置進一步提高輕質(zhì)元素的檢測效果
XRD-XRF聯(lián)用儀/應(yīng)用領(lǐng)域
BTX PROFILER集成二維XRD技術(shù)及ED-XRF技術(shù)，可對材料實現(xiàn)**的分析檢測，提供材料的元素組成、化學(xué)成分、晶體結(jié)構(gòu)等方面的信息。**應(yīng)用于地質(zhì)礦產(chǎn)、石油地質(zhì)錄井、地球化學(xué)、制藥、催化劑、法醫(yī)、材料等工業(yè)及科研領(lǐng)域。
礦物鑒定 XRD錄井鉆井 催化劑研發(fā)
選礦效率
礦石品位 能源勘探 腐蝕物鑒定與防腐
石油地質(zhì) **多晶型 材料成分及結(jié)構(gòu)
XRF錄井鉆井 真假藥識別 教育與科研
XRD-XRF聯(lián)用儀/配置
BTX PROFILER旋轉(zhuǎn)多樣品系統(tǒng)
1、儀器配置帶4個樣品的自動進樣系統(tǒng)
2、可選配帶20個樣品的自動進樣系統(tǒng)
3、可按程序設(shè)定對20個樣品依次檢測分析
4、適用于檢測樣品量較大、分析時間較長、無需操作人員在場的情形
5、可選配氦氣凈化裝置，有利于Mg、Al、Si、P、S等輕元素的檢測。