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產(chǎn)品資料
渦流陣列探傷儀
產(chǎn)品型號:OmniScan MX ECAECT
產(chǎn)品展商:

渦流陣列技術(shù)(ECA)以電子方式驅(qū)動同一個(gè)探頭中多個(gè)相鄰的渦流感應(yīng)線圈,并解讀來自這些感應(yīng)線圈的信號。通過使用多路技術(shù)采集數(shù)據(jù), 可避免不同線圈之間的互感。

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產(chǎn)品詳情 產(chǎn)品特點(diǎn) 技術(shù)參數(shù)
渦流陣列檢測

渦流陣列技術(shù) 
渦流陣列技術(shù)(ECA)以電子方式驅(qū)動同一個(gè)探頭中多個(gè)相鄰的渦流感應(yīng)線圈,并解讀來自這些感應(yīng)線圈的信號。通過使用多路技術(shù)采集數(shù)據(jù), 可避免不同線圈之間的互感。 

OmniScan® ECA
檢測配置在橋式或發(fā)射-接收模式下可支持32個(gè)感應(yīng)線圈(使用外部多路器可支持的感應(yīng)線圈多達(dá)64個(gè))。操作頻率范圍為20 Hz6 MHz,并能選擇在同一采集中使用多頻。

渦流陣列的優(yōu)勢 
同單通道渦流技術(shù)相比,渦流陣列技術(shù)具有下列優(yōu)勢:

  • 檢測時(shí)間大幅度降低。
  • 單次掃查覆蓋更大檢測區(qū)域。
  • 減小了機(jī)械和自動掃查系統(tǒng)的復(fù)雜性。
  • 提供檢測區(qū)域?qū)崟r(shí)圖像,便于數(shù)據(jù)的判讀。
  • 極好地適用于對那些具有復(fù)雜幾何形狀的部件的檢測。
  • 改進(jìn)了檢測的可靠性和檢出率(POD)。

渦流陣列探頭 
Olympus NDT
制造的R/D Tech® ECA探頭可適用于**的應(yīng)用領(lǐng)域。根據(jù)缺陷的不同類型或者被測工件的形狀,可以設(shè)計(jì)出不同的探頭。標(biāo)準(zhǔn)探頭可檢測如裂紋、點(diǎn)蝕等缺陷,以及多層結(jié)構(gòu)中如裂紋及腐蝕等近表面的缺陷。


傳感器之間的多路轉(zhuǎn)換技術(shù)。


渦流陣列探頭可以省掉兩軸掃查中的一軸,使渦流設(shè)置具有更大的靈活性。

 

探頭可以做成不同的形狀和尺寸,以更好地適應(yīng)檢測部件的外形。

 




用于腐蝕檢測的發(fā)射-接收探頭可以探到鋁材料中6毫米(0.25英寸)的深度。


用于表面裂痕檢測的發(fā)射-接收探頭以及一個(gè)可選編碼。

用于表面裂痕檢測的**式探頭。

請了解有關(guān)我們渦流陣列探頭的更多的信息

渦流陣列軟件

簡單的數(shù)據(jù)采集和分析顯示

 

 

 

  • C掃描視圖中的數(shù)據(jù)采集,可快速有效地檢測缺陷。
  • 分析模式下的數(shù)據(jù)選擇,可在阻抗圖和帶狀圖中瀏覽信號。
  • 波幅、相位和位置測量。
  • 可調(diào)彩色調(diào)色板。
  • 大尺寸阻抗平面圖和帶狀視圖,與常規(guī)單通道ECT探頭檢測相適應(yīng)。

校準(zhǔn)向?qū)?/span>

  • 分步進(jìn)行。
  • 一組中的所有通道可被同時(shí)校準(zhǔn),每個(gè)通道各有自己的增益和旋轉(zhuǎn)。
  • 波幅和相位可以根據(jù)不同的參考缺陷設(shè)定。

報(bào)警

  • 3個(gè)報(bào)警輸出可將指示燈、蜂鳴器和TTL輸出組合到一起。
  • 可以在阻抗圖中定義不同的報(bào)警區(qū)形狀(扇形、長方形、環(huán)形等)。

自動探頭識別和配置

  • 探頭被連接后,C掃描參數(shù)和多路器的順序即可被自動設(shè)置。
  • 頻率范圍保護(hù)可避免損壞探頭。

分析模式下的求差工具

該功能可去除在相鄰?fù)ǖ篱g的提離變化。

**實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)處理

 

 

  • 實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)插值可以改進(jìn)缺陷的空間顯示。
  • 使用兩個(gè)頻率,可生成一個(gè)MIX信號,以去除干擾信號(如:提離、緊固件信號等)。
  • 數(shù)據(jù)處理可以選用高通、低通、中值和平均濾波器。下圖為一個(gè)應(yīng)用實(shí)例:在搭接處邊緣檢測出裂紋,因?yàn)樵撎幒穸瘸霈F(xiàn)急劇的變化。經(jīng)濾波的數(shù)據(jù)可以改進(jìn)檢測效果,特別是對小裂紋而言。